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| 电子元器件常见失效模式及失效机理（已过期） |
课程编号：28653 |
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| 上课时间： |
从 2008-06-20 09:00 到 2008-06-21 12:00 |
| 课程时长： |
5 小时 |
| 市 场 价： |
1800 元 |
| 淘 课 价： |
1800 元
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| 淘币兑换： |
180,000 淘币
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| 开课地点： |
北京市
北京南苑空军军械培训中心 |
| 人 气： |
21
发表评价
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| 课程类别： |
战略管理 生产管理 质量管理 |
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电话咨询开课机构
报名热线： 021-61505199
培训受众
系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、质量可靠性管理、失效分析工程师
课程收益
胡先生从不开设公开课，我公司邀请胡会能先生破例开设公开课，讲授电子元器件常见实效模式及失效机理，帮助元器件生产厂家、使用单位提高元器件质量。
课程内容
课程大纲：1、电子元器件引线断裂的常见失效模式
2、电阻器，电位器常见失效模式及机理分析
3、电容器常见失效模式及机理分析
4、继电器常见失效模式及机理分析
5、电连接器常见失效模式及机理分析
6、分立器件常见失效模式及机理分析
7、集成电路常见失效模式及机理分析
8、混合集成电路常见失效模式及机理分析
讲师介绍
航天科技集团电子元器件专家组成员、失效分析专家胡会能先生一直在中国运载火箭技术研究院从事电子元器件失效分析工作。负责完成多项重大失效分析任务，完成和指导完成的电子元器件失效分析案例共万余次，积累了丰富的实践经验。
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