高阶半导体量测技术(已过期) 课程编号:29690 
上课时间: 从 2008-06-22 09:30 到 2008-06-24 16:30
课程时长: 18 小时
市 场 价: 1800 元
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开课地点: 上海市 上海浦东新区张江高科技园区碧波路500号
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课程类别: 个人技能 其它
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培训受众
除必须了解半导体的基本知识,包括半导体物理,器件物理,以及固态电子器件外,对半导体工艺制程及真空系统等必需有一定认识或实务经验
 
课程收益
本课程提供精辟半导体各项特性量测原理及技术等之说明,内容包括:
电阻率﹑载子浓度﹑迁移率﹑能障﹑接触电阻﹑串连电阻﹑器件信道长度﹑临界电压﹑及界面捕陷电荷分析等.
课程重点:
主要在半导体与电性相关之特性量测亦会包含材料分析之相关量测技术
 
培训颁发证书
课程结束且考试合格将授予结业证书.
 
课程内容
1. 半导体特性简介与电阻率量测 (3小时)
2. 掺杂浓度,载子浓度,移动率量测 (3小时)
3. 接触电阻,Schottky 能障,与电迁移效应评估 (3小时)
4. 串联电阻,MOS器件之道长度与宽度,临界电压与热载子效应 (3小时)
5. 半导体缺陷相关特性量测 (3小时)
6. 氧化层与接口能阶相关量测 (3小时)
 
讲师介绍
Education:
美国佛罗里达大学电机系博士
Experience:
中国台湾清华大学电机系/电子研究所教授
中国台湾实验室认证体系校正领域评鉴技术委员会委员兼副召集人
中国电机工程学会大学院校电机与信息相关系所学门评鉴委员
中国台湾行政院原子能委员会核能研究所科技顾问
中国台湾工业技术研究院电子工业研究所顾问
中国台湾工业技术研究院能源与资源研究所顾问
中山科学研究院顾问
联华电子股份有限公司顾问
台湾通用器材股份有限公司顾问
沛亨半导体股份有限公司顾问
崇贸科技股份有限公司顾问
台积电顾问
台湾教育部大学暨独立学院教学特优教师奖两次
台湾电子材料与器件协会杰出论文奖
旺宏金硅奖设计组最佳指导教授奖
中国台湾清华大学学术卓越奖
复芯微电子专聘讲师
Specializations:
半导体器件物理; 半导体器件特性量测; 半导体器件电子杂讯分析; 功率半导体器件
 
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