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统计过程控制SPC II

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  • 开课时间:2007年10月18日 09:00 周四 查找最新
  • 结束时间:2007年10月19日 17:00 周五
  • 课程时长:12小时
  • 招生进展:
  • 开课地点:上海市
  • 授课讲师: 待定
  • 课程编号:18525
  • 课程分类:生产管理
  •  
  • 收藏 人气:305
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培训受众:

本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

课程收益:

持续改进之路
SPC简史
产品控制和过程控制
缺陷发现和缺陷预防
质量和生产力的关系
一些简单的统计数
点图和柱状图
均值和中值
标准差和极差
样本和群体
变差
变差的普通和特殊原因
受控和非受控过程
以时间分布作图
抽样程序
理想样本
抽样和能力
抽样和控制策略
样本均值
过程控制和产品能力
正态分布
控制图模式
&R和&s图
计算控制限
选用正确的控制图
控制图解释
失控信号
反应计划
过程能力
过程能力指数
过程能力和产品能力
用控制图数据评价能力
测量变差的来源
量具R&R研究
单值图
属性类数据的控制图
第二版新增控制图简介

课程大纲:

理解SPC的基本原理和实践方法;
了解过程变差及其评价方法,开展过程能力的评估;
掌握基础的统计概念和SPC的基本步骤;
建立均值、极差图和均值、标准差图,并能对控制图作解释;

本课程名称: 统计过程控制SPC II

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