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上海慧克管理咨询有限公司

加入时间 2008-01-23
简介 上海慧克管理咨询有限公司(Wittek)是国内知名的统计技术培训及辅导的机构.Wittek借鉴国外质量咨询的成功经验,针对我国企业对长期、综合性质量管理咨询的实际需求所推出的创新性服务。每年来,Wittek结合十多年质量管理咨询经验,在深刻理解客户需求的基础上,与客户共同确定年度咨询项目。客户在日常……
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测量系统分析与统计过程控制--SPC&MSA 课程编号:25817 
课  时: 14 小时
人  气: 14   查看评价  发表评价 在线咨询
课程类别: 质量管理
联系电话: 021-61505199  淘淘
培训受众
需要用到统计过程控制知识的人员,实验室人员,质量人员,仪器管理人员,工艺工程师,供应商管理,持续改进小组成员
 
课程收益
本课程旨在使学员掌握五大工具中SPC与MSA的相关知识,使学员了解统计过程控制一原理,在实际中会运用控制图,同时帮助学员理解测量系统的统计特性,在老师的引导下,使学员掌握偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验,具备开展测量系统分析和改进的能力。
 
课程内容
1持续改进之路
SPC简史
产品控制和过程控制
缺陷发现和缺陷预防
质量和生产力的关系
2、一些简单的统计数
图形方法
均值和中值
标准差和极差
样本和群体
3、变差
变差的普通和特殊原因
受控和非受控过程
以时间分布作图
4、抽样程序
理想样本
抽样和能力
抽样和控制策略
5、样本均值
过程控制和产品能力
正态分布
6、控制图模式
& R 和 & s图
计算控制限
选用正确的控制图
7、控制图解释
失控信号
反应计划
8、过程能力
9、过程能力指数
10、单值图
11、属性类数据的控制图
12、第二版新增控制图简介
13、测量系统分析概述
什么是测量系统
什么是测量误差
为何要做测量系统分析
14、MSA和TS16949
汽车行业对测量系统的要求
如何满足ISO/TS16949对MSA的要求
优胜者的方法
15、理想状态
变差的表达
测量系统统计特性
测量设备的分辨力
测量系统的分辨力
计量型测量系统的分析重复性和再现性分析
偏倚、线性和稳定性分析
16、计数型量具
17、其它类型测量系统分析
破坏性测量系统分析
自动化测量系统分析
18、测量系统能力不够时的处理方法
19、总结
 
在线咨询      课程编号: 25817  咨询热线:021-61505199
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