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硬件测试技术案例高级研修班

质量保证
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  • 开课时间:2016年04月14日 09:00 周四 查找最新
  • 结束时间:2016年04月15日 17:00 周五
  • 课程时长:12小时
  • 招生进展: 确定开班
  • 开课地点:上海市
  • 授课讲师: 专家
  • 课程编号:306654
  • 课程分类:互联网/语言
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培训受众:

从事电子产品测试、设计、制造、试验和管理的技术工程师及相关负

课程大纲:

硬件测试的目的就是站在用户的角度,对产品的功能、性能、可靠性、兼容性、稳定性等进行严格的检查,体验用户感受的同时提高产品的质量及市场竞争力。硬件测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量、降低产品的全寿命周期费用的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多企业不断追求的目标。
培训收益:
在产品设计阶段,可以对产品设计原型进行虚拟测试,验证设计方案,排除可能的设计缺陷;在生产阶段,可以对产品进行全面的测试,排除产品的潜在故障,从而降低使用过程中的故障率,提高产品的质量和可靠性。另一方面,可测试性技术可以缩短新产品的研制、试验和评价的周期,降低产品的研制费用,不仅如此,还可以提高产品的可用性、可维护性等指标,减少用于这些方面的费用,从而降低了产品的全寿命周期费用。
掌握电子产品硬件设计技术;能够合理选择硬件测试项目和试验方法;免费得到以下资料:电影(PCB测试、分析及维修技术;电子组件电测试技术;PCB裸板测试技术;通孔焊点工艺质量标准;表贴焊点质量标准;),软件测试技术讲义,部分元器件测试方法,部分产品内部测试报告;
课程提纲:
以电子电气测试为重点,解析大量实例,培养学员分析、解决实际问题的能力。讲课内容届时根据实际情况会有所调整。
1、硬件测试概述
1.件测试目的   2.测试需求的来源   3.测试的基本原则    4.硬件测试种类  
5.硬件测试流程技术;
2、硬件测试准备技术
1.FMEA(故障模式影响分析)    2.测试计划   3.硬件可测试性设计 3.1 PCB可测试性的条件内涵3.2影响PCB测试策略的参数 3.3 PCB可测试性的关键技术 3.4常用PCB可测试性技术:Ad-hoc测试技术、扫描技术、内建自测技术(BIST)、几种可测试性技术的比较 3.5设备和系统可测试性设计     4.测试的安全措施
3、硬件工艺测试技术
1.PCB测试技术   2.再流焊实时温度曲线测试技术   3.PCB的测试方法:手工视觉测试、自动光学检查(AOI)、飞针测试机、X-Ray测试、ICT测试机;
4、硬件电气测试技术
1.低频电路测试技术:各种元器件特性曲线  2.电路板故障检测仪  3.高速电路测试技术:3.1信号完整性测量工具 3.2示波器的使用:探头补偿、使用探头尖端触点时注意事项、小信号测量降低噪声、避免从探头屏蔽检取电流 3.3集总式电路特性测试技术 3.4信号质量测试:信号质量测试方法、测试结果分析、硬件信号质量测试案例(1.数据线毛刺2.PLASH芯片工作异常、损坏率高) 3.5信号时序测试:信号时序测试条件、信号时序测试覆盖范围、测试参数、信号时序测试过程、时序测试案例(误码严重) 
4.容差、容错定量测试(操作容限测试)4.1附加噪声 4.2调节宽总线上的定时:通过同轴缆延时调节时钟、通过脉冲发生器调节时钟、用于时钟相位调节的简单电路、用锁相环调节时钟、通过改变电压调节时钟;4.3供电4.4温度 4.5数据吞吐量
5.射频微波测试基础   6.搭接阻抗测试    7.硬件测试自动化技术
5、硬件安全测试技术
1.标志和文件  2.防电击测试  3.电气间隙和爬电距离测试  4.介电强度试验 
5.供电电源的断开试验      6.产品防机械危险检验  7.产品耐机械冲击、撞击试  8.设备温度限制和防止火的蔓延  9.耐热试验  10.元器件安规测试  11.开关电源安规测试 12.小功率电动机检测  13.锂离子电池安全性;
6. 环境适应性测试技术
1.应用范围 2.高温试验 3.低温试验 4.温度变化 5.湿热试验 6.振动试验 7.冲击和碰撞 8.防尘防水试验 9.潮湿试验 10.腐蚀试验 11.紫外灯耐气候试验 12.离心加速度试验 13.低气压试验
7、硬件测试管理技术
1.产品测试组织  2.硬件验收流程  3.测试问题的解决:测试问题的确认、测试问题的定位、测试问题反馈方式和流程、测试问题跟踪和解决流程  4.测试效果评估:测试度量指标、评审、经验总结的形式、遗留问题处理、市场规模应用跟踪、产品故障率统计 
5.测试文件:管理、测试用例、测试报告、测试规范制定、需要哪些规范、规范的制定准则 
6.测试人员的等级认证
8、综合案例
1.电源类测试:开关电源、DC-DC电源内部 2.计算机硬件测试:MEGAWIN MCU内部测试 3.网络系统硬件测试技术 4.光模块内部测试 5.手机硬件测试(测试用例) 6.状态监测
七、授课教师
周老师:英国Wayne kerr电子仪器公司技术顾问、Emerson公司产品评审专家、美国Gerson Lehrman集团专家、电子行业资深教授、大学博士;浙江省和重庆市重大科技项目评审和评奖委员;江苏省科技咨询专家。早年于西门子公司设计数控系统7年,后一直从事电子设备可靠性设计、电磁兼容设计、电子设备结构设计、热设计、防腐蚀设计、隔振降噪设计、电子设备制造工艺设计、硬件测试、静电防护体系建设、质量管理、认证等方面的研究和实践,从业30余年经验。出版专业著作9部,包括《现代电子设备设计制造手册》《电子设备结构与工艺》、《电子设备防干扰原理与技术》、《现代传感器技术》、《数控机床实用技术》、《现代电子设备设计制造手册》、《电磁兼容基础及工程应用》、《家用电器实用技术》等,部分著作多次印刷发行;待出版的专业著作有《印制电路板设计制造技术》并应一些单位的要求编写了企业内部规范等等;多次去国外进行产品设计评审并主持完成我国省部级科研课题多项,在中国工程院院刊等核心期刊发表学术论文40多篇,多篇被EI收录。

本课程名称: 硬件测试技术案例高级研修班

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