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几何尺寸和公差(GD&T)

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  • 开课时间:2013/12/11 09:00 已结束
  • 结束时间:2013/12/12 16:00
  • 开课地点:上海市
  • 授课讲师: 吕立桂
  • 课程编号:238844
  • 课程分类:项目管理
  •  
  • 收藏 人气:1448
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培训受众:

设计、质量、工艺和制造工程师,检验员,CMM测量员,以及相关需要识图,用图和绘图的人员

课程收益:

认识ISO、国标和GD&T之间的区别与联系;
掌握GD&T的几何公差、符号、术语、规则及最经济的应用方法
应用GD&T的知识降低制造和检测的难度
学会简单的GD&T检具知识

培训颁发证书:

课程大纲:

第一模块 简介GD&T符号和术语
GD&T基础知识
历史渊源,应用范围
标准标注
传统正负公差标注的弊端
GD&T与传统坐标的异同
形位公差之间相互约束关系
GD&T规则和概念
规则#1, 规则#2
实效边界条件 (Virtual Condition)
实体原则和补偿因子: MMC/LMC/RFS
公差补偿 (Bonus Tolerance)
基本尺寸、可控半径等等介绍
第二模块 基准 (Datum) 的应用
基准的定义原则
基准建立
基准的标注
方法要求及案例
基准的应用
在设计、加工、检测、装配之间的关联
经典错误案例
含糊的基准标注
基准错误对零件检测的影响
基准在实体状况的应用
基准最大实体和最小实体对检具的影响
基准的实体补偿对位置公差检测的影响
第三模块 形状公差
直线度 (Straightness)
平面度 (Flatness)
圆度 (Roundness)
圆柱度 (Cylindricity)
尺寸公差与形状公差间的关联
测量案例(直线度、平面度 、圆度、圆柱度)
第四模块 方向公差
垂直度 (Perpendicularity)
平行度 (Parallelism)
倾斜度 (Angularity)
尺寸公差与方向公差间的关联
测量案例(垂直度、平行度、倾斜度)
第五模块 位置公差
位置度(Position accuracy)
位置度的定义
位置度应用
案例:最大实体、最小实体的应用
位置度计算
案例:检测中实体补偿的应用
位置度复合公差的应用
同轴度 (Coaxiality)
同轴度的定义、计算和应用
位置度与同轴度之间的关联
对称度 (Symmetry)
对称度的定义、计算和应用
置度与对称度之间的关联
轮廓 (Profile)
面轮廓度 (Surface Profile) 的定义和应用
线轮廓度 (Line Profile) 的定义和应用
复合轮廓度复合公差的应用
轮廓度的测量与计算
同心度和同轴度的应用区别及测量方法对比
跳动 (Runout)
圆跳动 (Circular Runout)
全跳动 (Total Runout)
跳动测量与计算
第六模块 其它符号的应用
MMC,LMC
延伸公差区域
Unqual
SIM REQT
SEP REQT
第七模块 GD&T设计及应用思路
GD&T与ISO在设计、测量和制造的差异
GD&T测量思路在投影仪/CMM的实现
建立测量基准
与传统测量方法的区别
基准对测量误差的影响
GD&T的检具设计思路和测量分析
案例分析、课堂练习和学员疑难图纸解答。.
(注:在整个两天的培训中,将穿插若干经典错误案例,同时为提高培训效果将安排若干课堂练习)

培训师介绍:

 
  吕老师于2000年年初加入GE担任专职黑带( BB ),主要负责工厂6Sigm、Lean活动的推动,于2001年年底获得GE总部首批颁发的全球认可的黑带证书。由于业绩出色,被提升为该业务部门中国区质量经理。2003年年中,加入一家中型跨国企业,历任中国区质量经理、工厂厂长,在工厂导入精益理念,获得可观的收益。辅导多家企业导入6Sigma、Lean、五大工具等管理方法和工具,并深受好评。

  吕老师在GE技术研发部工作过,为北京威迅半导体做过近一年的研发项目管理,为多家企业提供研发项目、DOE、QFD等研发类课程,在研发技术领域有丰富的经验。

本课程名称: 几何尺寸和公差(GD&T)

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